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一种高低温测试环境的提供装置及调节方法、测试装置[发明专利]

来源:微智科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种高低温测试环境的提供装置及调节方法、测试

装置

专利类型:发明专利

发明人:许金波,徐红巧,刘智,宁培桓申请号:CN201810034262.8申请日:20180112公开号:CN107957637A公开日:20180424

摘要:本发明实施例提供一种高低温测试环境的提供装置及调节方法、测试装置,涉及显示面板的检测领域,能够避免现有的测试装置因能耗和测试效率受限而无法为显示面板提供具有较大空间的高低温环境,从而无法对显示面板在高低温环境下进行视角、色偏等需要较大空间的光学测试的问题。该提供装置包括测试腔室以及能够将测试腔室分为第一腔室和第二腔室的闸门,第一腔室的空间小于第二腔室的空间;该提供装置还包括面板承载单元、移动单元、转动单元;第一腔室的腔体上开设有面板进出口,面板进出口上设置有密封门;第二腔室的腔体上设置有检测窗口;第一腔室中设置有第一温度调节装置和第一温度检测装置,第二腔室中设置有第二温度检测装置。

申请人:京东方科技集团股份有限公司,合肥京东方光电科技有限公司

地址:100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

国籍:CN

代理机构:北京中博世达专利商标代理有限公司

代理人:申健

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