用以检测光学元件品质的检测方法及装置

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN200510074301.X （22）申请日 2005.05.25

（71）申请人 致伸科技股份有限公司

地址 省台北市

（10）申请公布号 CN1869668A （43）申请公布日 2006.11.29

（72）发明人 秦厚敬;陈祥男

（74）专利代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司

代理人 王玉双

（51）Int.CI

G01N21/958;

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

用以检测光学元件品质的检测方法及装置

（57）摘要

本发明关于一种用以检测光学元件品质的

检测方法及装置，该方法包含下列步骤：利用一光源产生装置以提供一点状光源；输出该点状光源，并使其穿经由一握持装置所握持的光学镜头组，以于一光学影像处理装置处形成一第一光学影像；于该第一光学影像中具有一阴影区块时，调整该光学镜头组的位置状态，以使该点状光源于穿经遂行调整动作的该光学镜头组后，而于该

光学影像处理装置处形成一第二光学影像；以及比较该第一与第二光学影像，以判断该阴影区块是否因应该光学镜头组的调整动作而同步移动，决定该光学元件的品质。

法律状态

法律状态公告日

2006-11-29 2007-01-24 2009-06-10 2016-07-20

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权 专利权的终止

法律状态

公开

实质审查的生效 授权 专利权的终止

权利要求说明书

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说明书

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