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对爆炸物荧光检测的含双带隙光子晶体的荧光检测膜的制备方法[发明专利]

来源:微智科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:对爆炸物荧光检测的含双带隙光子晶体的荧光检测

膜的制备方法

专利类型:发明专利发明人:李珩,王京霞,宋延林申请号:CN201010238385.7申请日:20100723公开号:CN101941315A公开日:20110112

摘要:本发明涉及对爆炸物荧光检测的含双带隙光子晶体的荧光检测膜的制备方法。本发明是将双带隙光子晶体引入到荧光检测膜中,其中检测爆炸物荧光的激发光的波长和所述荧光检测膜中荧光分子的发射波长的峰位与含双带隙光子晶体的荧光检测膜的双光子带隙的带边相重合。方法包括一步法和两步法,一步法是将荧光分子分散到含有两种不同粒径的单分散乳胶粒的乳液中,通过两次喷墨打印、喷涂或竖直沉积的方式成膜;两步法是先制备双带隙光子晶体膜(含有蛋白石或反蛋白石结构),采用物理气相沉积法或旋涂的方法将荧光分子分散到双带隙光子晶体膜表面。本发明利用双带隙光子晶体对特定波长光的作用,实现荧光信号的增强,最终较大地提高检测灵敏度。

申请人:中国科学院化学研究所

地址:100190 北京市海淀区中关村北一街2号

国籍:CN

代理机构:上海智信专利代理有限公司

代理人:李柏

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