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专利名称：一种进行自动匹配的测试方法专利类型：发明专利
发明人：李成霞,成家柏,吴鑫,杨靖,陈巍申请号：CN202011635227.5申请日：20201231公开号：CN112834906A公开日：20210525
摘要：本发明提供了一种进行自动匹配的测试方法，包括：步骤S1.获取所有待测晶圆信息，以及第一测试计划；步骤S2.选择预设数量的晶圆进行测试，获取第一测试数据；步骤S3.将所述第一测试数据，及产品的基准文件、产品的模板测试规格文件，作为自动匹配处理的输入读入，进行自动匹配处理生成第二测试计划；步骤S4.选择所有待测晶圆进行测试，获取第二测试数据。该方法实现了测试设备测试数据的补偿，使客户在使用不同厂家的测试设备时自动匹配，实现数据的处理与分析，方便客户的产品使用，有利于降低客户的生产、研发成本。
申请人：杭州广立微电子股份有限公司
地址：310012 浙江省杭州市西湖区西斗门路3号天堂软件园A幢15楼F1座
国籍：CN
代理机构：江苏坤象律师事务所
代理人：赵新民
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