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一种红外辐射测量系统[实用新型专利]

来源:微智科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种红外辐射测量系统专利类型:实用新型专利发明人:冯国进,李平,王煜,郑春弟申请号:CN200820123746.1申请日:20081118公开号:CN201311327Y公开日:20090916

摘要:本实用新型涉及一种红外辐射测量系统,该系统包括:样品模块,探测器模块,所述样品模块以及所述探测器模块之间的汇聚光路,以及与所述样品模块、探测器模块都相连的控制模块,其特征在于,样品模块包括:密封的样品舱;第一位移台,设置于所述样品舱内,且可在水平面内移动,所述第一位移台与所述控制模块相连;黑体辐射源,固定于所述第一位移台上;第二位移台,设置于所述第一位移台上,可在所述第一位移台、水平面内移动,所述第二位移台与所述控制模块相连。该系统克服了现有技术的不足,实现了1.7μm~25μm红外波段辐射的直接测量,通过自动校准的方式保证了测量得到的红外辐照度数据的准确性。

申请人:中国计量科学研究院

地址:100013 北京市北三环东路18号

国籍:CN

代理机构:北京路浩知识产权代理有限公司

代理人:刘长威

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