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专利名称：存储装置及其测试方法专利类型：发明专利发明人：吴祥煌,李日农申请号：CN200810129037.9申请日：20080624公开号：CN101615433A公开日：20091230
摘要：本发明提供一种存储装置及其测试方法，可以检测两个存储器阵列间的耦合错误。该存储装置包含存储器阵列单元及测试模块。该存储器阵列单元包括值存储器阵列及屏蔽存储器阵列。该测试模块耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产生测试模式信号至该存储器阵列单元，以执行存储器测试。其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段，及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整数。
申请人：瑞昱半导体股份有限公司
地址：中国新竹科学园区
国籍：CN
代理机构：北京市柳沈律师事务所
代理人：蒲迈文
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