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专利名称：存储器及存储器的功能测试方法专利类型：发明专利发明人：郑莉
申请号：CN201811443199.X申请日：20181129公开号：CN109712665A公开日：20190503
摘要：本申请涉及集成电路领域，公开了一种存储器及存储器的功能测试方法。此存储器包括具有N个存储块存储体、行列地址译码器、读写控制器、模式选择器和块选择器，所述存储器具有第一模式和第二模式两种工作状态，在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第一模式的信号时，所述读写控制器对所述块选择器选择的一个存储块读写数据；在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第二模式的信号时，所述读写控制器对所述N个存储块同时读写数据。在使用相同的外部测试设备及拥有相同存储容量的情况下，本申请涉及的存储器可以显著的缩短测试时间。
申请人：上海安路信息科技有限公司
地址：200080 上海市虹口区东大名路391-393号4楼A4246室
国籍：CN
代理机构：上海一平知识产权代理有限公司
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