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专利名称：一种存储器测试装置专利类型：发明专利
发明人：姜曾,杨超,马天赐,刘建明,陈瑶,陈六赢申请号：CN201911310450.X申请日：20191218公开号：CN112349336A公开日：20210209
摘要：本发明属于数字集成电路测试领域，具体涉及一种存储器测试装置。该测试装置包括：储器集成测试平台MITP和PC机，所述MITP包括Spartan6 FPGA最小系统、电源配电网络PDN、串口电路、LED电路和存储器测试接口电路。可用于FPGA配置存储器在常温环境下的全擦除及多种数据的全编程、校验、串并配置输出等功能测试，以及具有JEDEC标准的Nand Flash在不同工作模式下的全编程、棋盘或March校验等功能测试。能有效提高芯片的测试效率、降低测试成本。
申请人：成都华微电子科技有限公司
地址：610041 四川省成都市高新区益州大道中段1800号天府软件园G1楼22层
国籍：CN
代理机构：北京众元弘策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：宋磊
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