单晶晶面偏角及偏向测算方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201310637248.4 （22）申请日 2013.12.02 （71）申请人 长春理工大学

地址 130022 吉林春市朝阳区卫星路70号

（10）申请公布号 CN103592322A

（43）申请公布日 2014.02.19

（72）发明人 石广丰;史国权;胡明亮

（74）专利代理机构 长春菁华专利商标代理事务所

代理人 陶尊新

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

单晶晶面偏角及偏向测算方法

（57）摘要

单晶晶面偏角及偏向测算方法属于单晶材

料定向检测及加工技术领域。现有技术需要反复对晶体做偏角定向。本发明采用X射线晶体定向仪测量待测晶面上位于同一平面上的任意三点衍射角，标注所测三点的位置；连接所测三点成三角形，量出所述三角形边长并计算内角；建立空间直角坐标系；基于所述空间直角坐标系列出已知量与未知量方程组，求解所述三点及其投影点坐标，计算得到待测晶面法向向量与理想晶面的

法向向量；根据晶系晶面夹角公式计算出待测晶面相对于理想晶面的偏角，再根据空间两方向向量夹角公式计算出待测晶面相对于理想晶面的偏向；根据所获得的偏角、偏向，调整晶体切割方向，一次切割加工出与晶体定向相符的晶面。

法律状态

法律状态公告日

2014-02-19 2014-02-19 2014-03-19 2014-03-19 2015-08-19 2015-08-19 2018-01-23

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效 授权 授权 专利权的终止

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实质审查的生效 实质审查的生效 授权 授权 专利权的终止

权利要求说明书

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说明书

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